如何测试igbt模块热阻抗

2021-06-07

如何测试热阻抗Zth(j-r)前边谈及能够选择“芯片表层贴热电偶”或“红外热成像仪”的方式 检测结温,再根据NTC的温度和igbt模块的耗损,理论上是能够测算出热阻Rth(j-r)。但因为热电偶响应时间和热成像仪的刷新率都相应比较慢,没办法检测动态热阻抗Zth(j-r),因此igbt模块厂家通常选择Vce结温测量方法来检测igbt模块的热阻和热阻抗曲线。Vce结温测量方法如图6所显示。igbt模块在小电流(10-100mA)状况下,集-射极压降Vce和结温Tj成线性比例关联,这一关联能够借助不同温度下检测Vce值的方式 校正出。如此在igbt模块热阻检测时就可以借助小电流下Vce的检测值推算出实际的结温。这样的结温测...

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单向可控硅模块的导通条件

2021-06-04

一、单向可控硅模块原理可控硅导通条件:一种是可控硅阳极与阴极间需要加正方向电压,二是控制极也需要加正方向电压。以上2个条件需要同时具备,可控硅才会处在导通模式。此外,可控硅一经导通后,即便 减少控制极电压或去除控制极电压,可控硅依然导通。可控硅断开条件:减少或去除加在可控硅阳极至阴极间的正方向电压,使阳极电流低于最小维持电流以下。 二、单向可控硅模块的性能检测可控硅品质好坏的辨别能从4个层面实现。第1是3个PN结应完好无损;第2是当阴极与阳极间电压反方向连接时可以阻断,不导通;第3是当控制极开路时,阳极与阴极间的电压正方向连接时也不会导通;第4是给控制极添加正方向电流,给阴极与阳极加正方向电压...

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为何厂家给不出结NTC的热阻Rthj-r?

2021-06-04

某些工程师会问,igbt模块规格书中都能提供igbt模块结-壳热阻Rth(j-c)或结-散热器热阻Rth(j-s),为何不直接给出结-NTC的热阻Rth(j-r)如此便能够借助NTC直接测算结温了。在这先看1个简单的例子。下图是一个CIB模块(7单元)在散热器上的热模拟仿真结果。从图上能够得出,模块的位置和方向发生改变后,即便最热igbt模块芯片的结温相同(142°C),但NTC的温度却发生了10°C的转变 ,这便会导致2个设计中igbt模块结-NTC的热阻Rth(j-r)不一样,所以igbt模块厂家单从模块方面是无法在规格书中提供结-NTC的热阻Rth(j-r),这一热阻务必要结合实际设计才能够提供。 ...

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双向可控硅模块的构造

2021-06-03

下图是双向可控硅模块的构造。 双向可控硅(晶闸管)构造基本原理:双向可控硅模块具备2个方向轮番导通、关断的特性。双向可控硅模块本质上是2个反并接的单向可控硅,是由NPNPN五层半导体形成几个PN结构成、有几个电极的半导体器件。因为主电极的构造是对称的(都从N层引出),因此 它的电极不像单向可控硅那般各自叫阳极和阴极,而是把与控制极相近的叫作第1电极A1,另1个叫作第2电极A2。双向可控硅模块的关键缺陷是承担电压上升率的能力较低。这是由于双向可控硅模块在一个方向导通结束时,硅片在各层中的载流子还没回到断掉状态的位置,必需采取有效的保障措施。双向可控硅模块元件关键用作交流控制电路,如温度控制、灯光控制、防...

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怎样检测igbt模块的结温

2021-06-03

因为igbt模块芯片在模块内,且表层一般都覆有硅胶,标准igbt模块模块直接检测结温几乎是不太可能的。因此,必须igbt模块生产厂家做一定的处理供应专门用于结温测试的样品。以下为使用端两种常见的测量方法:1.芯片表层贴热电偶igbt模块模块生产厂家事先在某些芯片表层贴上热电偶(如图3所示),样机测试时能够通过数据采集仪读取芯片温度。 图3:SEMiX3pigbt模块芯片表层贴热电偶要注意的是,贴在芯片表层的热电偶金属线也会带走部分芯片的热能,会导致5-15°C的测量误差。此外,在检测时务必要做好热电偶和数据采集仪间的电位隔离,不然可能会导致人员伤亡和测试仪器毁坏。2. 红外热成...

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